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一种新型SGT-MOSFET器件栅结构制造技术
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文档序号:23788681
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一种新型SGT‑MOSFET器件栅结构,屏蔽栅左右两侧各有个控制栅,因此器件在正向阻断时,屏蔽栅外围的绝缘介质辅助耗尽半导体漂移区,提高了半导体漂移区浓度,有利于降低比导通电阻,器件正向导通时,半导体漂移区产生电子积累层,屏蔽栅外围的绝缘介...
该专利属于济南安海半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过济南安海半导体有限公司授权不得商用。
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