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本发明公开了一种大口径多反射面级联天线链路损耗测试装置及方法，该装置包括星上热定标源、冷空反射镜、旋转扫描镜、接收组件、第一低温参考源、第二低温参考源、高温参考源和聚束反射面，并形成以下信号通道：第一信号通道：星上热定标源→旋转扫描镜→接收...
该专利属于上海航天测控通信研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海航天测控通信研究所授权不得商用。

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