下载基于单色X射线衍射的单晶应力检测方法的技术资料

文档序号:22913150

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本发明公开了一种基于单色X射线衍射的单晶应力检测方法,方法包括以下步骤:获得待检测单晶的晶向,基于所述晶向建立晶体坐标系,基于承载单晶的样品台建立样品坐标系,获取所述晶体坐标系相对于样品坐标系的旋转矩阵;布置单色X射线的入射方向和用于获得衍...
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