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本实用新型公开了一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性；解决的问题是，O...
该专利属于信元光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过信元光电有限公司授权不得商用。

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