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本发明公开一种基于SD‑OCT图像的青瓷釉层厚度自动测量方法。对青瓷釉层的SD‑OCT图像进行降噪和二值化处理，检测图像中包含像素最多的目标定位釉层上边界并通过拉格朗日插值法优化所定位的釉层上边界；对图像的背景及目标进行分离并进行图像扁平化...
该专利属于浙江科技学院所有，仅供学习研究参考，未经过浙江科技学院授权不得商用。

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