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本实用新型属于光学技术领域，具体涉及一种检测离轴抛物面的光学系统；为解决长焦大离轴量离轴抛物面镜的检测系统光路过长受气流扰动严重以及CCD对被检测工件的检测分辨率低从而导致检测精度下降的技术问题，提出一种检测长焦大离轴量离轴抛物面镜的光学系...
该专利属于苏州如期光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州如期光电科技有限公司授权不得商用。

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