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本发明专利技术涉及一种可用于光电传感器、图像传感器或相机性能测试的光学暗室，属于光电测量技术领域。本发明的光学测量暗室为两层结构，其中一层是测量室，用于放置待测件及三维平移台等附属结构，设计有供光电测量用的入光口；暗室另一层是电缆室，光电测...
该专利属于西安远望图像技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安远望图像技术有限公司授权不得商用。

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