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本发明涉及一种FPGA嵌入式块存储器的性能测试方法，包括如下步骤：（1）嵌入式块存储器功能设计；（2）伪随机序列测试向量设计；（3）读写使能、读写地址与读写时钟设计；（4）RTL级行为仿真；（5）测试结果分析。本发明提供的FPGA嵌入式块存...
该专利属于南京胜跃新材料科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京胜跃新材料科技有限公司授权不得商用。

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