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一种IC芯片测试系统和方法技术方案
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文档序号:20328460
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本发明公开了一种IC芯片测试系统和方法,用以解决无法快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式的问题。系统包括:测试机台,时钟模块和控制模块;控制模块分别与时钟模块和测试机台连接;测试机台根据每种测试模式对应的信息,确定IC芯片当前进入的目...
该专利属于珠海格力电器股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过珠海格力电器股份有限公司授权不得商用。
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