下载测量基材上沉积的涂层的厚度的光学方法的技术资料

文档序号:18823937

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供了测量物体上涂层厚度的方法和装置。在物体上预定位置处将光引导到物体,使得一部分光与物体相互作用。拍摄由与物体相互作用的那部分光产生的图像,该图像具有至少两个波长通道(例如颜色通道)。基于所述至少两个波长通道中每个通道的直方图,确定...
该专利属于阿科玛股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过阿科玛股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。