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测量基材上沉积的涂层的厚度的光学方法技术
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文档序号:18823937
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本申请提供了测量物体上涂层厚度的方法和装置。在物体上预定位置处将光引导到物体,使得一部分光与物体相互作用。拍摄由与物体相互作用的那部分光产生的图像,该图像具有至少两个波长通道(例如颜色通道)。基于所述至少两个波长通道中每个通道的直方图,确定...
该专利属于阿科玛股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过阿科玛股份有限公司授权不得商用。
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