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提供的是在用于光学测量微粒的特性的微粒测量中以高精度校正输出电平差的技术。本发明提供一种例如设置有检测单元和信息处理单元的微粒测量装置，检测单元用于检测来自发出预定波长带宽的荧光的荧光参考粒子的光，信息处理单元用于基于由检测单元检测的输出脉...
该专利属于索尼公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼公司授权不得商用。

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