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本发明涉及Buck‑Boost集成稳压芯片的好坏检测装置及方法，属芯片检测领域。包括8脚IC座、5脚IC座、多谐振荡电路、X9C102数字电位器、脉宽调制电路、组合逻辑控制电路、端口切换电路、升压电路；8脚IC座、5脚IC座均与端口切换电路...
该专利属于昆明理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过昆明理工大学授权不得商用。

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