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本发明公开了一种测试SoC芯片电气特性的系统，包括：智能电源，用于根据测试程序向被测芯片输出电压；测试面板，与所述智能电源连接，用于接入所述被测芯片并判断所述被测芯片是否处于正常运行状态；信号处理器，分别与所述智能电源和所述测试面板连接，用...
该专利属于苏州国芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州国芯科技有限公司授权不得商用。

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