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本发明实施例提供用于校正存储器中的数据错误的系统及方法。形成包含存储器的集成电路IC裸片。确定当经受高温时易受数据遗失的存储器位置的地址。将数据位写入到所述存储器，其中所述数据位包含写入到所述存储器位置的一组位。将所述组位写入到当经受所述高...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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