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本实用新型提供一种新型微弱磁场测量仪，线圈通电时在磁场中受力偏转，偏转过程中带动劈尖的上下玻璃板相对转动使劈尖的角度改变，从而使干涉条纹产生变化。摄像装置记录经过读数显微镜放大后的干涉条纹和条纹的变化过程，并将记录的干涉条纹图像传给计算机，...
该专利属于武汉科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉科技大学授权不得商用。

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