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在本发明提供的DUT测试板及其使用方法中，所述DUT测试板包括电源信号选择单元、DUT信号选择单元和自动切换单元，利用DUT信号选择单元的两个选择端口输出需要的电源信号，进而将Vpp信号连接到所述待测样品DUT的任意一个引脚上，并利用自动切...该专利属于中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。