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本发明提供一种用于测试模拟信号的系统，所述系统包括参考信号生成装置、多个比较装置以及存储装置，其中，所述参考信号生成装置用于生成参考信号；所述比较装置的数量与待测信号的数量相同，每个比较装置分别用于将一个待测信号与所述参考信号进行比较并生成...该专利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司授权不得商用。