下载存储单元及其制备方法的技术资料

文档序号:16588778

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本发明提供一种存储单元及其制备方法,包括:提供半导体衬底;在半导体衬底上形成第一多晶硅;在第一多晶硅上形成多层膜结构,多层膜结构由多层氧化硅和多层氮化硅依次交替层叠形成,其中,多层膜结构包括至少两层氧化硅以及至少两层氮化硅;选择性刻蚀多层膜...
该专利属于中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。

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