专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
卡尔蔡司X射线显微镜公司
>
计算机断层摄影X‑射线显微镜系统中谱表征的方法和系统技术方案
>技术资料下载
下载计算机断层摄影X‑射线显微镜系统中谱表征的方法和系统的技术资料
文档序号:16334198
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种用于断层重建、束硬化校正、双能量CT和系统诊断等等的谱测量和估计方法,包括确定源加速电压、预滤器和/或检测器的组合的谱,并且在测量多个预滤器的透射值以后计算所述源加速电压、预滤器和/或检测器组合的校正谱。...
该专利属于卡尔蔡司X射线显微镜公司所有,仅供学习研究参考,未经过卡尔蔡司X射线显微镜公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。