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本发明提供一种平均磨损方法、内存控制电路单元及内存储存装置。此方法包括根据抹除次数从无存有有效数据的实体抹除单元中选取第一实体抹除单元，并且从存有有效数据的实体抹除单元中选取有效数据量小于一个实体抹除单元的容量的第二实体抹除单元。此方法也包...
该专利属于群联电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过群联电子股份有限公司授权不得商用。

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