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本发明提供一种气体分析装置，利用对测量光的吸光，高精度地分析对象气体。气体分析装置(100)包括多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)、导入部(5)、受光部(7)和分析部(94)，多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)分别同时输出测量光(L...
该专利属于株式会社堀场制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社堀场制作所授权不得商用。

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