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本公开提供了用于芯片测试和编程的装置，成本降低，并且使用者能够简单确认装置与芯片是否良好接触。该装置包括主板，主板上形成有：与芯片的主体对应的第一放置区域，围绕第一放置区域并与芯片的多个管脚分别对应的多个第一引脚，在第一放置区域之外的多个第...
该专利属于肖敏所有，仅供学习研究参考，未经过肖敏授权不得商用。

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