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本发明公开了一种密封面缺陷三维检测方法，包括：获取密封面上带划痕的图片；根据带划痕的图片获取划痕的长度和初始宽度；根据初始宽度确定扫描路径；根据扫描路径规划扫描轨迹；沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度。与现有技术相比，本发明...该专利属于中广核研究院有限公司;中国广核集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中广核研究院有限公司;中国广核集团有限公司授权不得商用。