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基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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