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本发明公开了一种RLC参数的新算法的测量方法，在现代测控系统中，往往要对RLC参数进行实时测量，其精度的高低对系统的功能有决定性的影响[1]。元器件在不同频率测试下，尤其是高频段，其性能和指标都会发生变化[2]。传统的测量方式都是模拟式，有...
该专利属于西南科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西南科技大学授权不得商用。

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