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本发明的实施方式提供一种能抑制引线发生多余变形的半导体装置的制造方法、半导体装置、及引线框架。实施方式的半导体装置的制造方法包括如下步骤：一面挤压第1内引线，一面使推压构件压抵于第2内引线的布线部的上表面而使布线部的至少一部分变形，且将第1...
该专利属于株式会社东芝所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社东芝授权不得商用。

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