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提供一种气体分析仪，该气体分析仪降低由于光源部的经时变化而产生的因漂移引起的光量变动的影响，由此能够高精度地测定气体浓度。设为如下的气体分析仪：使用考虑因漂移引起的光量变动来预测规定的时间点下的光源部(10)的基准输出强度的预测校正式，根据...
该专利属于富士电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士电机株式会社授权不得商用。

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