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本发明为了能在不搭载专用的温度检测IC的情况下检测壳体整体的过热。控制IGBT(1～6)的控制IC(11～16)除了具备判断IGBT(1～6)的芯片的过热状态的过热检测比较器(31～36)以外，还具备判断壳体的过热状态的过热检测比较器(51...
该专利属于富士电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士电机株式会社授权不得商用。

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