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本发明公开了一种用于平板减薄缺陷定量化检测的无参考SH导波方法，利用无参考SH导波对平板进行缺陷重构，并给出缺陷具体位置以及形状，该方法包括：对总场进行模态分离，求解出所需SH导波模态的反射系数：求解无缺陷平板中格林函数，并给出远场的近似解...
该专利属于南京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京航空航天大学授权不得商用。

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