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本实用新型涉及一种半导体芯片技术领域,公开了一种SiC环状浮点型P+结构结势垒肖特基二极管,包括肖特基接触区、SiO2隔离介质、N‑外延层、N+衬底区和欧姆接触区,所述N+衬底区上面设有N‑外延层,所述N‑外延层上设有肖特基接触区和SiO2...该专利属于江苏捷捷微电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏捷捷微电子股份有限公司授权不得商用。
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本实用新型涉及一种半导体芯片技术领域,公开了一种SiC环状浮点型P+结构结势垒肖特基二极管,包括肖特基接触区、SiO2隔离介质、N‑外延层、N+衬底区和欧姆接触区,所述N+衬底区上面设有N‑外延层,所述N‑外延层上设有肖特基接触区和SiO2...