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本发明公开一种用于集成电路测试的弹簧探针，包括上导电体、下导电体和弹簧，上导电体的下部的表面形成有呈相对设置的两第一开槽，两第一开槽将上导电体的下部分割成两第一弹性部，下导电体的上部的表面形成有呈相对设置的两第二开槽，两第二开槽将下导电体的...
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