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本实用新型提供了一种测试座及测试装置，所述测试座包括：基底，依次位于所述基底上的隔离层与导电框，以及环绕所述基底的引线框；其中，所述引线框上设置有若干个焊片，第一部分焊片通过第一引线与所述芯片电连接，第二部分焊片通过第二引线与基底电连接，基...该专利属于中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。