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本发明涉及一种检测扩散Zn半导体激光器窗口区Zn扩散程度的方法，具体步骤包括：A、测定扩散Zn半导体激光器IV曲线中电流值对应的电压V；B、测定不扩散Zn且无其他电流旁路的半导体激光器I1V1曲线中电流值对应的开启电压Von；C、V和开启电...
该专利属于山东华光光电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华光光电子有限公司授权不得商用。

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