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本发明公开了一种光滤波器幅频响应的测量方法，属于光电子技术领域。本发明解决了传统扫频法需要额外校准的问题，本发明采用双移频外差原理，将经过光滤波器前后的光调制边带分别与移频光载波进行外差，实现单次扫频的自校准式光滤波器幅频响应测量，具有测量...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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