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本发明提供了一种应用于多颗射频芯片并行测试的悬臂式探针系统，包括探针卡板和至少两个芯片检测单元，每个所述芯片检测单元检测一颗射频芯片，所述芯片检测单元包括绝缘环和探针，所述绝缘环固定在所述探针卡板上，所述探针与所述绝缘环固定，所述探针远离针...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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