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提供一种粒子分析装置和一种粒子分析方法，其能够获得具有高可靠性的检测数据，而不执行高频叠加。一种粒子分析装置被配置成包括：光照射单元，所述光照射单元用激光照射在流径内流动的粒子；光检测单元，所述光检测单元检测荧光或散射光或者荧光和散射光两者...
该专利属于索尼公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼公司授权不得商用。

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