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用于通过长材的同一区域的图像的组合，对长材进行表面检查和缺陷检查的方法和设备，所述图像是在不同的照明条件下拍摄的，以便重构表面的形状，并且由此获得有关缺陷的存在性的信息。...
该专利属于材料开发中心股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过材料开发中心股份公司授权不得商用。

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