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本发明提供一种LED芯片抗断裂强度的测试方法及其测试装置，包括长条形的LED芯片试样、“凹”字型测试模具、载物台、推拉力测试机以及推刀，所述LED芯片横跨于“凹”字型测试模具的开口之上，所述“凹”字型测试模具固定于所述载物台的中心位置，所述...
该专利属于厦门三安光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过厦门三安光电有限公司授权不得商用。

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