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超薄硅薄膜钝化制备绝缘体上锗的方法技术
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文档序号:12453098
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超薄硅薄膜钝化制备绝缘体上锗的方法,涉及一种GeOI的制备方法。1)将Ge片清洗,在Ge片上生长超薄硅钝化层,即得Si/Ge晶片;2)将Si片清洗,采用干氧氧化,在Si片上生长SiO2层,即得SiO2/Si晶片;3)将步骤1)得到的Si/G...
该专利属于厦门大学所有,仅供学习研究参考,未经过厦门大学授权不得商用。
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