下载用于测试射频GSG结构的探针卡的技术资料

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本实用新型提供了一种用于测试射频GSG结构的探针卡,包括电路板、探针模组和连接线,探针模组和连接线设置于电路板上,探针模组与射频GSG结构电连接并通过连接线与电路板电连接,其中,在射频GSG结构的测试信号的传输通道上设置有EMI滤波装置,用...
该专利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(北京)有限公司授权不得商用。

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