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单幅载波干涉条纹成像质量实时监测调整方法，属于光学测量技术领域，为解决单幅载波干涉条纹面形反演测量中干涉条纹拍摄质量不受控、人为主观因素大的问题，该方法包括：获取成像系统技术指标；获取图像数据流；处理帧数据；以图像形式显示中间行数据和中间列...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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