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本发明提供一种浊度仪，包括：样品池；分别固定于样品池两侧的光源和检测器；以及用于控制所述光源和检测器的控制系统；还包括：用于对所述待测样品升温的加热系统，所述加热系统包括提供一密闭空间并使样品池容置于其中的加热炉，加热炉上还具有允许光线穿过...
该专利属于中国科学院上海应用物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海应用物理研究所授权不得商用。

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