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一种测量有机半导体材料状态密度的方法，包括：步骤1，测量有机半导体材料的赛贝克系数；步骤2，基于有机半导体材料的特征，选择一种状态密度函数；步骤3，通过渗流理论计算有机半导体材料的赛贝克系数值；步骤4，提取材料的状态密度宽度；步骤5，提取有...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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