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本实用新型公开了一种多探针时序测试系统，包括测试仪表和点测机，所述点测机包括点测机座和设于点测机座上的测试探针；所述点测机座上设有多个测试探针，还包括有时序控制器和测试电路切换装置，所述时序控制器分别通过第一线组、第二线组和第三线组与点测机...
该专利属于上海微世半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海微世半导体有限公司授权不得商用。

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