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基于模型的对齐及临界尺寸计量制造技术
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下载基于模型的对齐及临界尺寸计量的技术资料
文档序号:11517237
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本发明揭示一种用于执行基于模型的对齐及临界尺寸测量的方法及系统。所述方法包含:利用成像装置来获得针对光掩模指定的测量部位的至少一个光学图像;检索光掩模的设计并利用所述成像装置的计算机模型来产生所述测量部位的至少一个所模拟图像;调整所述计算机...
该专利属于科磊股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过科磊股份有限公司授权不得商用。
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