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一种磁共振成像超导磁体最短长度的获取方法，该方法在给定磁共振成像超导磁体所需的预布置线圈区域最小内直径和最大外直径、线圈中加载的平均电流密度、成像区域的中心磁感应强度、成像区域的尺寸和磁场峰峰值均匀度以及5高斯杂散场范围等系统参数条件下，通...
该专利属于中国科学院电工研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电工研究所授权不得商用。

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