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一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法技术
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下载一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法的技术资料
文档序号:10468314
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本发明公开了一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法,用局部度量欧氏距离ED、余弦角CA和整体度量光谱信息散度SID的值,进行归一化处理后计算表达式(ED×SID)/CA的值,人工确定阈值之后提出表达式(ED×SID)/CA位于阈...
该专利属于武汉理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过武汉理工大学授权不得商用。
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