用于检测DUT的信号特性的ATE制造技术

本发明专利技术提供一种自动测试设备(ATE)，所述ATE包括：电路，所述电路用于将来自被测器件(DUT)的包含确定性的和随机的（本底噪声）谱分量这两者的激励信号拆分成第一信号和第二信号；第一通道，所述第一通道用于接收所述第一信号，其中所述第一通道将第一本底噪声添加至所述第一信号以产生第一通道信号；第二通道，所述第二通道用于接收所述第二信号，其中所述第二通道将第二本底噪声添加至所述第二信号以产生第二通道信号，所述第一本底噪声、所述第二本底噪声和所述DUT本底噪声均彼此不相关；和处理逻辑部分，所述处理逻辑部分用于：估计所述确定性激励信号的第一功率，以及基于所述第一通道信号和所述第二通道信号估计第二总功率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】本专利技术提供一种自动测试设备(ATE)，所述ATE包括：电路，所述电路用于将来自被测器件(DUT)的包含确定性的和随机的（本底噪声）谱分量这两者的激励信号拆分成第一信号和第二信号；第一通道，所述第一通道用于接收所述第一信号，其中所述第一通道将第一本底噪声添加至所述第一信号以产生第一通道信号；第二通道，所述第二通道用于接收所述第二信号，其中所述第二通道将第二本底噪声添加至所述第二信号以产生第二通道信号，所述第一本底噪声、所述第二本底噪声和所述DUT本底噪声均彼此不相关；和处理逻辑部分，所述处理逻辑部分用于：估计所述确定性激励信号的第一功率，以及基于所述第一通道信号和所述第二通道信号估计第二总功率。【专利说明】用于检测DUT的信号特性的ATE
本专利申请整体涉及被构造成可检测被测器件(DUT)的信号特性的自动测试设备(ATE)。
技术介绍
ATE测试DUT的信号特性。例如，ATE可测定DUT的信噪比(SNR)。然而，如果ATE的本底噪声高于DUT的噪声性能水平，则会出现问题。这意味着ATE的噪声比DUT的噪声大。因此ATE的噪声干扰DUT的噪声测量。结果，ATE不能精确测量DUT的噪声特性。
技术实现思路
本专利申请描述用于检测DUT的信号特性(例如，DUT的信噪比(SNR))的方法和设备。此外，本专利申请还描述自动测试设备(ATE)，该自动测试设备(ATE)包括:被测器件(DUT)，其用于从中获取包含确定性的和随机的(本底噪声)谱内容的输出信号；电路，其用于将源自DUT的激励信号拆分成第一信号和第二信号；第一ATE通道，其用于接收第一信号，其中第一 ATE通道将第一本底噪声加至第一信号而产生第一通道信号;第二 ATE通道，其用于接收第二信号，其中第二 ATE通道将第二本底噪声加至第二信号而产生第二通道信号；以及处理逻辑部分，其用于:估计源自DUT的信号中的确定性谱分量的第一功率，以及基于第一通道信号和第二通道信号估计第二总功率。ATE可包括本专利申请中所述的任一个或多个特征，所述特征的例子如下。处理逻辑部分可包括用于基于第一通道信号和第二通道信号的互相关来估计第二总功率的电路。所述电路可包括用于在来自第一通道和第二通道的样本正被捕捉的同时根据互相关来累加值的单个累加器。DUT信号中的确定性谱分量可包括至少一个频率。处理逻辑部分可包括用于估计第一功率的电路，并且该所述电路可包括与生成第一通道信号的第一组系数的第一通道相对应的第一单箱离散傅里叶变换(DFT)块以及与生成第二通道信号的第二组系数的第二通道相对应的第二单箱离散傅里叶变换(DFT)块。第一和第二单箱离散傅里叶变换(DFT)块中的至少一者可包括第一累加器和第二累加器，第一累加器和第二累加器分别用于在来自第一通道和第二通道的样本正被捕捉的同时累加对应组的系数。第一累加器可被配置为累加系数的实部并且第二累加器可被配置为累加系数的虚部。所述至少一个频率可包括基频和/或基频的谐波。电路可被配置为接收来自第一和第二单箱离散DFT块的系数并且组合这些系数以确定第一功率。第一功率可在固定数量的时间点内加以估计。处理逻辑部分可被构造成根据第一功率和第二总功率来计算本底噪声。计算的本底噪声可低于第一本底噪声和第二本底噪声。处理逻辑部分可被构造成计算DUT的信噪t匕。处理逻辑部分可包括现场可编程门阵列(FPGA)。第二总功率可包括第一通道信号和第二通道信号的互相关的合计功率。此外，本专利申请还描述由自动测试设备(ATE)执行的方法，该方法包括:将来自被测器件(DUT)的包含确定性的和随机的(本底噪声)谱分量这两者的激励信号拆分成第一信号和第二信号；在ATE的第一通道中接收第一信号，其中第一通道将第一本底噪声加至第一信号而产生第一通道信号；在ATE的第二通道中接收第二信号，其中第二通道将第二本底噪声加至第二信号而产生第二通道信号；以及使用处理逻辑部分来:估计源自DUT的确定性激励信号的第一功率；以及基于第一通道信号和第二通道信号估计第二总功率。ATE可包括本专利申请中所述的任一个或多个特征，所述特征的实例如上所述。此外，本专利申请还描述ATE，该ATE包括:ATE参考源通道，其用于产生包含确定性的和随机的(不期望的本底噪声)谱分量这两者的激励信号；电路，其用于将参考源信号拆分成第一信号和第二信号；第一 DUT，其用于接收第一信号，其中第一 DUT具有第一本底噪声以产生第一通道信号；第二 DUT，其用于接收第二信号，其中第二 DUT具有第二本底噪声以产生第二通道信号；以及处理逻辑部分，其用于:估计第一 DUT通道的第一功率；估计第二 DUT通道的第二功率；使用第一通道信号和第二通道信号的互相关来估计第一 DUT通道与第二 DUT通道之间的相关功率；以及基于第一功率、第二功率和相关功率来估计第一DUT通道噪声功率和第二 DUT通道噪声功率。ATE可包括本专利申请中所述的任一个或多个特征，所述特征的例子如下。处理逻辑部分可包括用于基于第一通道信号的自相关来估计第一功率的电路。所述电路可包括用于在来自第一通道的样本正被捕捉的同时根据自相关来累加值的单个累加器。处理逻辑部分包括用于估计相关功率的电路。所述电路可包括用于在来自第一通道和第二通道的样本正被捕捉的同时根据第一通道信号与第二通道信号之间的互相关来累加值的单个累加器，其中相关功率包括激励信号(确定性)功率和激励噪声(随机)功率。参考源信号可包括至少一个频率。处理逻辑部分可包括用于估计激励信号功率的电路。所述电路可包括与用于生成第一通道信号的第一组系数的第一通道相对应的第一单箱离散傅里叶变换(DFT)块以及与用于生成第二通道信号的第二组系数的第二通道相对应的第二单箱离散傅里叶变换(DFT)块。处理逻辑部分可被构造成执行包括如下各项的运算:基于第一组系数和第二组系数的互相关来估计第一激励信号功率，以及基于第一组系数的自相关来估计第二激励信号功率。处理逻辑部分可被构造成执行包括如下各项的运算:使用第一 DUT通道信号的自相关来估计第一功率；使用第二 DUT通道信号的自相关来估计第二功率；通过将相关功率从第一功率中减去来估计第一 DUT通道噪声功率；以及通过将相关功率从第二功率中减去来估计第二 DUT通道噪声功率。本专利申请(包括此
技术实现思路
部分)中所描述的任何两个或更多个特征可组合在一起以形成本专利申请中未具体描述的实施例。上述全部或部分内容可被实现为由指令构成的计算机程序产品，所述指令存储在一个或多个非暂态机器可读存储介质上，并可在一个或多个处理装置上执行。上述全部或部分内容可被实现为设备、方法或系统，其可包括一个或多个处理装置以及存储用于实现功能的可执行指令的存储器。附图和以下【具体实施方式】阐述了一个或多个例子的细节。根据说明书、附图和权利要求书，其他特征、方面和优点将变得清楚。【专利附图】【附图说明】图1为ATE中的通道的框图，其中DUT是源器件。图2由图2A和图2B组成，其为包括在ATE的通道中的电路的框图，其中DUT是源器件。图3为示出了在ATE的通道中执行以降低这些通道中固有的噪声的互相关过程的流程图，其中DUT是源器件。图4是ATE中的通道的框图，其中DUT是捕捉器件。图5由图5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：嘉浩·科林·周，
申请(专利权)人：泰拉丁公司，
类型：
国别省市：