高负载气体颗粒物及有害气体采样器制造技术

一种高负载气体颗粒物及有害气体采样器，包括采样头和采样器主机，其特征在于：所述采样器主机包括流量传感器、抽气泵、环境温度传感器、大气压力传感器、单片机、键盘、显示屏；所述采样头由切割器、颗粒物采样滤膜、一层或几层气体吸附剂组成；所述颗粒物采样滤膜串接于颗粒物切割器下方；所述气体吸附剂置于颗粒物采样滤膜下方，气体吸附剂串联于气路中；所述采样器主机的流量传感器置于气体吸附剂下方。与现有技术相比，本发明专利技术的高负载气体颗粒物及有害气体采样器能同时采集气体中颗粒物和氟化物或有机物的样品，减少仪器配置、人工费、运输费、存储费及采购成本，提高工作效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种高负载气体颗粒物及有害气体采样器，包括采样头和采样器主机，其特征在于：所述采样器主机包括流量传感器、抽气泵、环境温度传感器、大气压力传感器、单片机、键盘、显示屏；所述采样头由切割器、颗粒物采样滤膜、一层或几层气体吸附剂组成；所述颗粒物采样滤膜串接于颗粒物切割器下方；所述气体吸附剂置于颗粒物采样滤膜下方，气体吸附剂串联于气路中；所述采样器主机的流量传感器置于气体吸附剂下方。与现有技术相比，本专利技术的高负载气体颗粒物及有害气体采样器能同时采集气体中颗粒物和氟化物或有机物的样品，减少仪器配置、人工费、运输费、存储费及采购成本，提高工作效率。【专利说明】高负载气体颗粒物及有害气体采样器
本专利技术涉及一种一机二用采样设备，具体地说涉及一种气体颗粒物及有害气体采样器，属于环境监测
。
技术介绍
现有的颗粒物采样设备，只能单独用于采集颗粒物样品；当采集诸如气体中氟化物、有机物等样品时，一般用100L/min流量采样，则需要另一台仪器采样。现有的采样器包括采样头和采样器主机，采样头为颗粒物采样头或气体采样头，采样器主机包括流量传感器、抽气泵、环境温度传感器、大气压力传感器、单片机、键盘、显示屏；采样器主机的流量传感器置于采样头下方并且与单片机电联接，用于测量采样气路的流量并参入采样流量和采样体积计算；抽气泵置于流量传感器下方，环境温度传感器、大气压力传感器与单片机电联接，用于测量环境温度和大气压力，并参入采样流量、采样体积计算；抽气泵、键盘、显示屏均与单片机电联接。国家标准HJ480-2009中环境空气、氟化物的测定滤膜采样氟离子选择电极法，给出了空气中氟化物采样的具体要求；需要同时采集颗粒物和氟化物气体或有机物气体样品时，使用现有的采样器需二台仪器，二个气路，费时费力。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种高负载气体颗粒物及有害气体采样器，能同时采集颗粒物样品和氟化物或有机物、半挥发性有机物等气体样品。为了解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是，一种高负载气体颗粒物及有害气体采样器，包括采样头和采样器主机，所述采样器主机包括流量传感器、抽气泵、环境温度传感器、大气压力传感器、单片机、键盘、显示屏；所述采样头由切割器、颗粒物采样滤膜、一层或几层气体吸附剂组成；所述颗粒物采样滤膜串接于颗粒物切割器下方；所述气体吸附剂置于颗粒物采样滤膜下方，气体吸附剂串联于气路中；所述采样器主机的流量传感器置于气体吸附剂下方。所述颗粒物切割器为旋风式、冲击式或虚拟式颗粒物切割器。所述颗粒物切割器的切割粒度为TSP/PM10、PM5、PM2.5或PMl。所述气体吸附剂分层串联于气路中。本专利技术的采样器的气体吸附剂可以根据采样需要进行选择，同时采集多种有害气体样品时，可以分别分层选择相应类型的气体吸附剂串联于气路中，用于采集不同的有害气体样品。 本专利技术具有以下有益效果: 与现有技术相比，本专利技术的高负载气体颗粒物及有害气体采样器能同时采集气体中颗粒物和氟化物或有机物的样品，减少仪器配置、人工费、运输费、存储费及采购成本，提高工作效率。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术实施例的结构框图； 图2是本专利技术的采样器实施例的采样头装置的结构示意图。【具体实施方式】以下结合附图及实施例对本专利技术进一步详细说明。实施例1 如图1和图2所示，本实施例的高负载气体颗粒物及有害气体采样器是一种气体颗粒物及氟化物气体采样器，能同时采集气体中颗粒物和氟化物气体样品，其包括采样头和采样器主机，采样头包括颗粒物切割器1、颗粒物采样滤膜2、气体吸附剂I 3、气体吸附剂II 4 ;采样器主机包括流量传感器5、抽气泵6、显示屏7、大气压力传感器8、环境温度传感器9、单片机10、键盘11。所述颗粒物切割器可以选用旋风式、冲击式或虚拟式的颗粒物切割器，本实施例中使用的是冲击式颗粒物切割器。所述颗粒物采样滤膜2串接于颗粒物切割器I的下方；所述气体吸附剂I 3串接在颗粒物采样滤膜2的下方，气体吸附剂II 4串接在气体吸附剂I 3的下方。本实施例的气体吸附剂I 3、气体吸附剂II 4均为氟化物吸附剂。事实上，本实施例的采样器的气体吸附剂可以根据采样需要进行选择，同时采集多种有害气体样品时，亦可以分别分层选择相应的气体吸附剂串联于气路中，用于采集不同的有害气体样品。采样器主机的流量传感器5串接在气体吸附剂II 4下方并且与单片机10电联接，用于测量采样气路的流量并参入采样流量和采样体积计算；抽气泵6进气口串接于流量传感器5之后，环境温度传感器9、大气压力传感器8与单片机10电联接，用于测量环境温度和大气压力，并参入采样流量、采样体积计算；抽气泵6、键盘11、显示屏7均与单片机10电联接。如图1、图2所示，本实施例的采样器工作时，气体样品从颗粒物切割器I的进气罩12的入口进入后，在经过喷嘴体13后，气体流速变快，根据流体力学原理，大的颗粒物被阻挡在冲击板14上，要采集的颗粒物样品在经过颗粒物采样滤膜2时被阻挡在颗粒物采样滤膜2上，剩余的气体经过颗粒物采样滤膜2后，首先被气体吸附剂I 3有选择的吸附，然后再次被气体吸附剂II 4有选择的吸附，经两次吸附采样后的气体经流量传感器5进入抽气泵6的排气口被排至大气。实施例2 如图1和图2所示，本实施例的高负载气体颗粒物及有害气体采样器是一种气体颗粒物及半挥发性有机物气体采样器，能同时采集气体中颗粒物和半挥发性有机物气体样品，其包括采样头和采样器主机，采样头包括颗粒物切割器1、颗粒物采样滤膜2、气体吸附剂I 3、气体吸附剂II 4 ;采样器主机包括流量传感器5、抽气泵6、显示屏7、大气压力传感器8、环境温度传感器9、单片机10、键盘11。所述颗粒物切割器可以选用旋风式、冲击式或虚拟式的颗粒物切割器，本实施例中使用的是冲击式颗粒物切割器。所述颗粒物采样滤膜2串接于颗粒物切割器I的下方；所述气体吸附剂I 3串接在颗粒物采样滤膜2的下方，气体吸附剂II 4串接在气体吸附剂I 3的下方。本实施例的气体吸附剂I 3、气体吸附剂II 4均为半挥发性有机物吸附剂。事实上，本实施例的采样器与实施例1的采样器的不同之处在于其设置的气体吸附剂不同，其余的结构及设置均相同。本实施例的采样器的气体吸附剂可以根据采样需要进行选择，同时采集多种有害气体样品时，亦可以分别分层选择相应的气体吸附剂串联于气路中，用于采集不同的有害气体样品。【权利要求】1.一种高负载气体颗粒物及有害气体米样器，包括米样头和米样器主机，其特征在于:所述采样器主机包括流量传感器、抽气泵、环境温度传感器、大气压力传感器、单片机、键盘、显示屏；所述采样头由切割器、颗粒物采样滤膜、一层或几层气体吸附剂组成；所述颗粒物采样滤膜串接于颗粒物切割器下方；所述气体吸附剂置于颗粒物采样滤膜下方，气体吸附剂串联于气路中；所述采样器主机的流量传感器置于气体吸附剂下方。2.根据权利要求1所述的采样器，其特征在于:所述颗粒物切割器为旋风式、冲击式或虚拟式颗粒物切割器。3.根据权利要求2所述的采样器，其特征在于:所述颗粒物切割器的切割粒度为TSP/ΡΜ10、ΡΜ5、ΡΜ2.5 或 PMl。4.根据权利要求2所述的采样器，其特征在于:所述气体吸附剂分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王丕征，曲健，徐景阳，王清泉，鲁道常，王鹏，李火，张大庆，王国华，刘志军，
申请(专利权)人：青岛恒远科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：