随动测压取放机构制造技术

本发明专利技术涉及集成电路测试分选领域，目的是提供一种随动测压取放机构。一种随动测压取放机构，包括下端设有至少两个导向孔和至少一个吸取口的压测头、设有贯通上下两端面的通腔的安装座、与安装座的上端连接的盖板、下端设有凹腔的平面罩，位于盖板和平面罩之间的压紧驱动装置和与测试座连接的随动复位组件。该随动测压取放机构相对于测试座定位容易且结构简单。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及集成电路测试分选领域，目的是提供一种随动测压取放机构。一种随动测压取放机构，包括下端设有至少两个导向孔和至少一个吸取口的压测头、设有贯通上下两端面的通腔的安装座、与安装座的上端连接的盖板、下端设有凹腔的平面罩，位于盖板和平面罩之间的压紧驱动装置和与测试座连接的随动复位组件。该随动测压取放机构相对于测试座定位容易且结构简单。【专利说明】随动测压取放机构
本专利技术涉及电子器件测试分选领域，尤其是一种随动测压取放机构。
技术介绍
电子器件测试分选过程中，测压取放机构需要在入料载体中吸取电子器件放置到测试座中，并将完成测试的电子器件放到出料载体中；为提高测试的准确率，测压取放机构需要将电子器件精准地置入到测试座中，并对电子器件在垂直方向施加一定大小的力，以保证电子器件的每个管脚与测试座内的相应探针能准确、充分接触；由于电子器件的管脚间距很小且易损坏，为使电子器件的管脚在置入到测试座中时不损坏，存在测压取放机构相对于测试座定位困难且结构复杂的不因此，设计一种相对于测试座定位容易且结构简单的随动测压取放机构，成为亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服目前的测压取放机构存在相对于测试座定位困难且结构复杂的不足，提供一种相对于测试座定位容易且结构简单的随动测压取放机构。本专利技术的具体技术方案是: 一种随动测压取放机构，包括下端设有至少两个导向孔和至少一个吸取口的压测头、设有贯通上下两端面的通腔的安装座、与安装座的上端连接的盖板、下端设有凹腔的平面罩，位于盖板和平面罩之间的压紧驱动装置和与测试座连接的随动复位组件。测试座的上端具有两个与导向孔间隙配合的导向销；该随动测压取放机构使用时，导向孔套入导向销，压测头带动随动复位组件移动或转动，使吸取口吸取的电子器件精准地置入到测试座中，并在压紧驱动装置作用下对电子器件在垂直方向施加一定大小的力，以保证电子器件的每个管脚与测试座内的相应探针能准确、充分接触；测试完成后，导向孔与导向销脱离，随动复位组件回复中位并带动压测头复位，以保证每一次取放电子器件或测压时测压头与入料载体、测试座、出料载体的配合偏移尽可能小。该随动测压取放机构相对于测试座定位容易且结构简单。作为优选，所述的随动复位组件包括连接块、至少一个两端分别与压测头和连接块连接的立柱、位于凹腔中且下端设有方头的随动柱、设有尺寸大于方头尺寸的方孔的底板、四个一端设有半球形侧推头的侧推杆和四个侧压簧；随动柱的直径小于凹腔的直径；方头的下端穿过方孔与连接块的上端连接；方头的四个侧面各设有一个侧锥孔；方孔的四个侧边各设有一个侧孔；每个侧压簧位于一个侧孔内，每个侧推杆的另一端压住一个侧压簧且半球形侧推头伸入侧锥孔中；底板与安装座间设有至少两个导柱导套。随动复位组件简单实用。作为优选，所述的随动块侧围的上端和下端各设有一个凹环和位于凹环中且设有滚珠的平面保持圈；一个凹环中的滚珠分别与凹腔的底面和凹环的侧边接触；另一个凹环中的滚珠分别与底板的上端面和凹环的侧边接触。设有滚珠的平面保持圈减小随动柱在凹腔中移动或转动的摩擦力。作为优选，所述的导柱导套的导柱为与底板连接的光轴，导套为套在光轴外并与安装座连接的直线轴承。精度高。作为优选，所述的凹腔底面的中部设有上锥孔；随动柱的上端设有上沉孔、位于上沉孔中的上压簧、下端压住上压簧且上端设有伸入上锥孔中的半球形上推头的上推杆。上压簧、设有伸入上锥孔中的半球形上推头的上推杆与上锥孔配合使随动柱更易于回复中位。作为优选，所述的压紧驱动装置为分别与盖板的下端和平面罩的上端连接的膜片气缸。膜片气缸的膜片为圆形膜状的弹性敏感元件；当膜片的两面受到不同的压力作用时，膜片向压力低的一面应变移动，使其中心产生与压力差成一定关系的位移。膜片气缸与随动复位组件配合压紧效果较好。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是:该随动测压取放机构相对于测试座定位容易且结构简单。随动复位组件简单实用。设有滚珠的平面保持圈减小随动柱在凹腔中移动或转动的摩擦力。所述的导柱导套的导柱为光轴，导套为套在光轴外的直线轴承，精度高。上压簧、设有伸入上锥孔中的半球形上推头的上推杆与上锥孔配合使随动柱更易于回复中位。膜片气缸与随动复位组件配合压紧效果较好。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术的一种结构示意图； 图2是图1中底板的结构示意图； 图3是图1中设有滚珠的平面保持圈的结构示意图； 图4是图1中随动柱的结构示意图； 图5是测试座的结构示意图。图中:电子器件-1、测试座-2、导向销-21、压测头-3、导向孔-31、吸取口 -32、安装座_4、通腔-41、平面罩-5、凹腔-51、上锥孔-52、随动柱_6、方头-61、侧锥孔-62、凹环-63、上沉孔-64、底板-7、方孔-71、侧孔-72、侧推杆_8、半球形侧推头-81、上推杆-9、半球形上推头-91、盖板-10、膜片气缸-11、连接块-12、立柱-13、侧压簧-14、滚珠-15、平面保持圈-16、光轴-17、直线轴承-18、上压簧-19。【具体实施方式】下面结合附图所示对本专利技术进行进一步描述。如附图1、附图2、附图3、附图4所示:一种随动测压取放机构，包括下端具有两个导向孔31和四个吸取口 32的压测头3、具有贯通上下两端面的通腔41的安装座4、与安装座4的上端连接的盖板10、下端具有凹腔51的平面罩5，位于盖板10和平面罩5之间的压紧驱动装置和与测试座连接的随动复位组件。本实施例中，所述的压紧驱动装置为分别与盖板10的下端和平面罩5的上端连接的膜片气缸11。所述的随动复位组件包括连接块12、四个两端分别与压测头3和连接块12连接的立柱13、位于凹腔51中且下端具有方头61的随动柱6、具有尺寸大于方头61尺寸的方孔71的底板7、四个一端具有半球形侧推头81的侧推杆8和四个侧压簧14 ;随动柱6的直径小于凹腔51的直径；方头61的下端穿过方孔71与连接块12的上端连接；方头61的四个侧面各具有一个侧锥孔62 ;方孔71的四个侧边各具有一个侧孔72 ;每个侧压簧14位于一个侧孔72内，每个侧推杆8的另一端压住一个侧压簧14且半球形侧推头81伸入侧锥孔62中；底板7与安装座4间具有四个导柱导套。所述的随动块6侧围的上端和下端各具有一个凹环63和位于凹环63中且具有滚珠15的平面保持圈16 个凹环63中的滚珠15分别与凹腔51的底面和凹环63的侧边接触；另一个凹环63中的滚珠15分别与底板7的上端面和凹环63的侧边接触。所述的导柱导套的导柱为与底板7连接的光轴17，导套为套在光轴17外并与安装座4连接的直线轴承18。所述的凹腔51底面的中部具有上锥孔52 ;随动柱6的上端具有上沉孔64、位于上沉孔64中的上压簧19、下端压住上压簧19且上端具有伸入上锥孔52中的半球形上推头91的上推杆9。如附图5所示:测试座2的上端具有两个与导向孔31间隙配合的导向销21 ;该随动测压取放机构使用时，导向孔31套入导向销21，压测头3经立柱13、连接块12带动随动柱6克服侧压簧14和上压簧19的阻力在凹腔51中移动或转动，使吸取口 32吸取的电子器件I精准地置入到测试座2中，并在膜片气缸11作用下对电子器件I在垂直方向施加一定大小的力，以保证电子器件I的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种随动测压取放机构，其特征是：包括下端设有至少两个导向孔和至少一个吸取口的压测头、设有贯通上下两端面的通腔的安装座、与安装座的上端连接的盖板、下端设有凹腔的平面罩，位于盖板和平面罩之间的压紧驱动装置和与测试座连接的随动复位组件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张永才，刘光金，韩笑，杨涛，赵轶，
申请(专利权)人：杭州长川科技有限公司，
类型：发明
国别省市：